用eviews軟體做LM檢驗出了問題,跪求大神解答

2021-05-28 03:14:29 字數 1700 閱讀 7060

1樓:

親,你的這個問題解決了嗎?我也遇到這種情況了,到底是怎麼回事呢?

解釋用eviews做的lm檢驗結果

2樓:凝月兔兔

h0 沒有序列自相關

h1 存在序列自相關

要想判斷其實很簡單直接看q檢驗的p值就可以。p值是指拒絕原假設錯誤的概率。舉個例子:第一行 q-stat 7.4861 prob 0.006

也就是說,拒絕原假設錯誤的概率很小(0.6%)所以,我們要拒絕原假設。存在序列自相關。

那個帶星星的圖是測資料平穩性的時候看的~大多用在arma模型。一般不知道也沒有什麼,圖形只是給你的大概的印象,要想知道資料情況到底怎樣,還是要通過具體的檢驗看資料。

3樓:思維超限戰

樓上正解,話說你做的是q檢驗,不是lm檢驗。話說q檢驗存在p值偏小的問題,建議看ac和pac的圖。那個圖超過虛線的範圍表明存在自相關。

用eviews做了序列相關性的lm檢驗,結果如下,該怎麼判斷是幾階序列相關呢?求解答

4樓:於川

1階序列相關。

lm檢驗:原假設

為諸係數為0

lm統計量=obs*r-squared它漸進服從卡方分佈,如果回太大,這拒絕原假設答

一般,在eviews中有p值,如果p值比較小,比如小於0.05,則拒絕原假設,認為原模型存在自相關。通過設定最大滯後階數,可以區別模型中的顯著與不顯著的滯後項,通過對比,可以剔除不顯著的項,再進行一次檢驗。

很明顯0<0.05,拒絕原假設存在一階自相關;0.1056>0.05,接受原假設不存在二階自相關。

eviews lm檢驗,怎麼分析輸出的結果?

5樓:

根據p值,應接受原假設,不存在自相關。

6樓:微塵的人生理念

恭喜你,這是個超爛的結果。f值越大越好,pf則是接近0最好,才能說明殘差不會自相關的。你的r-squared怎麼可能大於1的,肯定有問題的,你檢查一下吧。

如何運用eviews進行arch-lm檢驗?

7樓:匿名使用者

可以給你發一本操作的書,你可以學習下。需要嗎?

如何用eviews進行lm的自相關檢驗

eviews7.2如何進行lm檢驗

8樓:1虹蛟

舉個例子吧: 做時間復序列y的自迴歸,quick- estimate equation, 輸入y ar(1),確定制。得到一個「equation"視窗,在這個視窗裡面進行以下操作:

view- residual diagnostics- lm test。而不是:得到殘差序列以後,在殘差序列的**中進行view- residual…

請問,我在eviews中做lm檢驗,滯後為1,結果如下。這能說明什麼?

9樓:我這裡

f-statistic值大於obs r-squared,說明存在序列相關性

10樓:匿名使用者

你對分析方法的意義都沒弄清楚,別亂在eviews裡面瞎點了

我替別人做這類的資料分析蠻多的

關於eviews做adf檢驗結果的疑問

adf檢驗的原假 設是 有單位根.p值小於0.05,則可以拒絕單位根的假設,你這裡p值是0.000,完全可以拒絕原假設,序列平穩.當樣本量足夠大時,t分佈於正態分佈類似,t值大於2或小於 2,則可以拒絕原假設.在這裡t值為 9.658201,完全可以拒絕原假設,即不存在單位根,序列已經平穩.下面那個...

lm317t電路,我要個用LM317T做的穩壓電路。

不正常。這說明,你的馬達作為負載的話,對於lm317t這個電源晶片而言,負載太重了 也就是馬達電阻太小 負載過重會導致電流增大,一個電源晶片裡面有一定的額定輸出功率,當電流過大時,首先出現輸出電壓下降 也就是穩不住了,p ui,i太大,p不變,自然u就要小了 如果時間持續很長 或者瞬間電流很大 就會...

誰能幫幫我用eviews對以下資料做ADF檢驗協整檢驗和格蘭傑因果檢驗

檢驗結果lngdp為零階單整,只含截距項 t statistic prob.augmented dickey fuller test statistic 4.572622 0.0082 test critical values 1 level 4.420595 5 level 3.259808 10...