半導體低溫區高溫區怎麼判斷

1樓：帳號已登出

低溫中毀帆困心和高溫中心的判斷方法：等溫線閉合，中心氣溫低於四周為低溫中心。等壓線閉合，中心氣溫高於四周為高溫中心。

等溫線（isotherm），即圖上溫度值相同各點的連線，稱之為等溫線。

1799-1804年，德國地理學家洪堡在廣泛考察南北美洲和亞洲內陸的基礎上，揭示了自然界各種現象之間的聯絡，提出藉助氣象要素平均值可闡明氣候規律性，創造了用等溫線表示平均氣溫的製圖方法。1817年繪製了世界上第一幅等溫線圖。

等溫線平直表示影響轎渣氣溫的因素單一，如等溫線與緯線平行，說明影響氣溫的因素是太陽輻射。但是在大多數情況下，由於氣溫影響因素的多樣性，除太陽輻射外，還有洋流、地面狀況、大氣環流等，它們相互作用、相互影響，從而使等溫線發生纖念彎曲變形。一月份大陸上等溫線向南凸，海洋上等溫線向北凸。

2樓：人靜即來俗塵

半導體晶元高低溫測試是金屬、元器件、電子等材料行業必備的測試裝置，用於測試材料結構或複合材料，在瞬間下經高溫及較低溫的連續環境下忍受的程度，得以在短時間內檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。

半導體晶元高低溫測試具有簡單便利的操作效能和可靠的裝置效能，半導體晶元高低溫測試適用範圍廣泛，可用彎畝於電子電器零元件、自動化零部件、通訊元件、汽車配件、金屬、化學材料等行業，國防工業、航天、bga、pcb基扳、電子晶元ic、半導體陶磁及高分子材料之物理牲變化。

半導埋漏森體晶元高低溫測試需要特搜賣別注意，在使用的過程中不能輕易開啟半導體晶元高低溫測試，主要原因如下：

半導體晶元高低溫測試是模擬環境的試驗箱，在使用時，試驗箱內可能會有各種較端的環境，例如較低溫、高溫高壓、高溫高溼等特殊條件。

如果試驗箱中正在進行-70℃的較低溫測試，這個時候開啟試驗箱門，先寒冷的氣流會溢位試驗箱，如果我們的手指沒有做任何防護觸控到試驗箱壁貨樣品上，會瞬間凍傷，凍傷部位的肌肉組織甚至會壞死。另外在較低溫的情況下開啟試驗箱門可能會造成蒸發器結霜，會影響降溫速度，甚至有可能會造成壓縮機損壞等問題。

如果試驗箱中正在進行高溫150℃的測試時開啟試驗箱門，高溫氣體會瞬間衝出試驗箱，如果沒有做好相關防護，很有可能會燙傷我們的面部，如果試驗箱旁有燃點低的可燃物，甚至可能會引起**。

如果是其他環境試驗裝置時，比如恆溫恆溼試驗箱在進行高溫高溼試驗箱時，儀器內的壓力和蒸汽會非常大，如果在此時開啟試驗箱門，也會有高溫高溼的蒸汽衝出試驗箱，也較有可能會對操作人員造成嚴重的燙傷。

所以，在半導體晶元高低溫測試執行中途，若沒有非常必要開啟試驗箱門，請勿開啟試驗線門，如果須要使用中途開啟試驗箱門，那麼請一定做好相關的防護措施，用正確的方法開啟試驗箱門。