1樓：北京得利特
油體積電阻率測定儀按dl421.91《絕緣油體積電阻率測定法》的電力行業標準為專
依據，根據有源屬電橋的原理研製成功的一種新型電阻率測定專用儀器。具有結構簡單、線性度好、靈敏度高、測試結果穩定、操作安全等優點，其效能遠高於通常的電壓電流法。儀器由引數測量系統、油杯加熱控溫系統兩部分組成，具有自動計時、液晶顯示功能。
可測量絕緣油體積電阻率。
2樓：匿名使用者
四探針電阻率測來試儀也源有很多種，例如高溫的或bai者常溫的，
du不同的四探針電阻zhi率測試
儀針對不同的材料dao測量的引數也是不同的。舉例，高溫四探針電阻率測試儀可以測量矽、鍺單晶電阻率和矽外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃和其他導電薄膜的方塊電阻，主要用於評估半導體薄膜和薄片的導電效能。hrms-800高溫四探針電阻率測試儀就是，主要測量的引數就是半導體材料的電阻、電阻率、方塊電阻等。
直流四探針法測量半導體的電阻率的原理是什麼？有什麼需要注意的嘛
3樓：匿名使用者
四探針電阻率測試儀也有很多種，例如高溫的或者常溫的，不同的四探針電阻率測試儀
版針對不同的材料
權測量的引數也是不同的。舉例，高溫四探針電阻率測試儀可以測量矽、鍺單晶電阻率和矽外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃和其他導電薄膜的方塊電阻，主要用於評估半導體薄膜和薄片的導電效能。hrms-800高溫四探針電阻率測試儀就是，主要測量的引數就是半導體材料的電阻、電阻率、方塊電阻等。
四探針電阻率測試儀主要是測什麼電阻率的？
4樓：蘇州晶格電子
四探針電阻率測試儀配合不同的探頭可以測的材料也不同。配高耐磨的碳化鎢探針探頭，以測試矽等半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率；配不傷膜的球形或平頭鍍金銅合金探針探頭，可測金屬箔、碳紙等導電薄膜，也可測陶瓷、玻璃或pe膜等基底上導電塗層膜，如金屬鍍膜、噴塗膜、ito膜、電容卷積膜等材料的薄膜塗層電阻率；配專用箔上塗層探頭，也可測試鋰電池電池極片等箔上塗層電阻率。
5樓：匿名使用者
四探針電阻率測試儀也有很多種，例如高溫的或者常溫的，不同的四探針電阻率測試儀針對不同的材料測量的引數也是不同的。舉例，高溫四探針電阻率測試儀可以測量矽、鍺單晶電阻率和矽外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃和其他導電薄膜的方塊電阻，主要用於評估半導體薄膜和薄片的導電效能。hrms-800高溫四探針電阻率測試儀就是，主要測量的引數就是半導體材料的電阻、電阻率、方塊電阻等。
6樓：匿名使用者
四探針測試儀測矽片電阻率時，n型和p型的矽片都可以測。
比如用於做電力元件的矽片是n型的，用於做太陽能電池的矽片是p型的（有的），這些矽片用四探針測試儀都能測。
7樓：匿名使用者
四探針電阻率測試儀,依據樣品性質不同，測試量程也不同，一般分為：
ft-361低量程，用於測量低阻性塗層，薄膜，鋁箔等半導體材料，方阻量程：10^6～2×10^5ω/□ 電阻率範圍10^7～2×10^6ω-cm
ft-341通用型中間段量程；可以測量大部分半導體材料；
方阻量程：10^5～2×10^5ω/□ 電阻率範圍10^6～2×10^6ω-cm
3.ft-371高阻性半導體基底層
方阻量程：10^4～1×10^7ω/□；電阻率範圍10^5～2×10^8ω-cm
8樓：匿名使用者
主要是測方塊電阻,可以換算電阻率
電導率與電阻率轉換計算,電導率和電阻率如何換算
兩者互為倒數關係,比如20兆歐大約等於1 20即 0.05us 電導率和電阻率如何換算?電阻率的倒數就是電導率,它們之間的關係成倒數關係。電阻率 用來表示各種物質電阻特性的物理量。某種材料製成的長1米 橫截面積是1平方毫米的導線的電阻,叫做這種材料的電阻率。國際單位制中,電阻率的單位是歐姆?米,常用...
銅電阻率隨溫度的變化是怎樣的，銅繞組電阻率隨溫度的變化情況
絕大多數純金屬的電阻率溫度係數都約為0.004 攝氏度。在100 200攝氏度溫度區間，電阻率和溫度間應該是很好的線性關係 0.01724 t 20 0.004 平方毫米 米 除過渡族金屬外，絕大多數純金屬的電阻率溫度係數都約為0.004 攝氏度。在你給出的100攝氏度溫度區間，電阻率和溫度間應該是...
各種材料的電阻率都與溫度有關,金屬的電阻隨溫度升高而減小
錯了，金屬導體的電阻是隨溫度的升高而增大的，並不是減小。因為溫度升高，使導體內分子的熱運動增大，對自由電子的流動產生的阻力增大，導電性下降。金屬的溫度升高，電子的活動加劇 電子越容易移動，電阻自然就越低 各種材料的電阻率都與溫度有關這句話對嗎 1 金屬導體隨溫度升高，電阻率增大，電阻增大。2 半導體...